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其他测试设备
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安东帕多波长型折光仪
安东帕高性能数字折光仪
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农业和食品专用仪器
布拉本德 粉质仪 FarinoGraph
布拉本德 拉伸仪 Extensograph-E
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布拉本德 面筋测定仪 Glutopeak
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饮料工业自动化实验室
密度仪
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安东帕L-Dens 2300 密度传感器
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微波消解仪
安东帕微波消解系统Multiwave 5000
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孔径分析仪
安东帕全自动薄膜孔径及渗透率分析仪系列(Porometer)
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化学吸附仪
安东帕ChemBET Pulsar全自动程序升温化学吸附仪
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激光粒度仪
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物理吸附仪
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反应釜
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粉体特性测试仪
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球磨机
球磨仪BM 500
zeta电位仪
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磨粉机
布拉本德 磨粉机 Quadrumat系列
蒸汽吸附仪
安东帕VSTAR™全自动蒸汽吸附分析仪
粉末流动测试仪
安东帕粉体流变仪
X射线粉末衍射仪
自动化粉末 X-射线衍射仪
挤出机
布拉本德 单/双螺杆挤出机TwinLab 系列
压汞仪
安东帕PoreMaster 压汞仪
比表面积测定仪
安东帕Autoflow高通量比表面仪
纳米材料
超纳米压痕测试仪
高压吸附仪
安东帕iSorb HP全自动高压吸附分析仪
颗粒图像测试仪
安东帕动态图像法粒度粒形分析仪Litesizer DIA 500
测量/计量仪器
台式全自动流变仪
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产品系列
SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探测器技术的极限 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 实验室光束线,可在紧凑型系统中实现**分辨率。受益于安东帕出色的 SAXS 系统,该系统可解析高达 620 nm 的纳米结构。SAXSpoint 5.0 能够在室温环境和非室温环境条件下分析几乎所有材料,具有极大的灵活性。许多其他可选功能使 SAXSpoint 5.0 可以用于未来的微米级 (USAXS) 应用。通过功能强大的软件包,可以自动进行操作和数据分析,轻松实现材料特性的无损研究。
在*短的测量时间内提供出色的数据质量
SAXSpoint 5.0 采用高光谱纯度和无散射光束准直的高亮度 X-射线束。配备强大的微焦斑光源或 MetalJet X-射线源和高性能光学元件,可在极短的曝光时间内提供出色的测量结果。结合**的混合光子计数 (HPC) 探测器,可确保获得高质量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 结果,以实现纳米结构材料分析。通过这种出色的设置,可以实现极好的分辨率,并以同类产品中*紧凑的系统尺寸解析高达 620 nm 的结构。
一次性获得 SAXS 和 WAXS 数据
SAXSpoint 5.0 具有移动探测器 Slidemaster,可在非常宽的 q 范围内进行全自动 X-射线散射研究。因此,您可以一次性获得 SAXS 和 WAXS 数据,无需重新调准系统。只需移动探测器,即可为每次实验选择**的 q 范围,从** SAXS 分辨率到宽的 WAXS 范围。
SAXSpoint 5.0 为您的测量提供自动光束遮挡器选择和定位。由于它集成了**的 EIGER2 R 探测器,因此可以进行无窗和无光束遮挡测量。
简化日常实验工作
自动完成日常测量工作,加快测量速度,是 SAXSpoint 5.0 实验室系统的标准性能。SAXSpoint 5.0 配备了 Stagemaster,它可以自动对准所有 X-射线成分和样品台,识别安装的样品台,并相应地配置系统。这为您的测量设置提供**的可能结果。使用 ASX 自动进样器,对液体样品,如分散液和生物样品,自动样品进出。ASX 自动进样器可配备*多 192 个样品,并针对敏感型样品提供冷却选件。
样品台选择:一套系统适用于所有实验条件
几乎所有种类的纳米结构材料都可以使用安东帕的各种样品台进行分析。使用 TrueFocus 可以轻松、快速地在不同的样品台之间切换,并可确保自动对准所有组件。受益于测量装置独有的灵活性。
温控台:在 -150°C 到 600 °C 范围进行控温研究。
湿度样品台:在规定的相对湿度和温度条件下进行分析
GISAXS/GIXD 样品台:在真空条件下或者与独特的 GISAXS 加热模块(高达 500℃)联用研究纳米结构表面和薄膜
加热/冷却进样器:利用温控进样器进行自动研究(多固相/糊状/液体样品或毛细管样品)
Tensile 样品台:在定义的机械载荷下,分析纳米结构纤维。定制样品台解决方案。
RheoSAXS 模块:一次性进行完整的流变和纳米结构研究
剪切台:高达 350 °C下的剪切实验
直接获得结果:功能强大的控制和数据分析软件
功能强大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 软件解决方案支持自动执行常规步骤,如测量设置和调准,以及综合数据分析。设置连续测量,利用自动进样、温度扫描和时间相关研究,并使用可定制的模板分析获得的 1D 和 2D 数据集。确定回转半径 (RG)、粒径、Porod 常数、比表面积、Kratky 曲线等参数是 SAXSanalysis™ 的标准功能。对于高级结构解析 (PCG),如粒径、粒径分布、形状和内部结构,可使用 IFT 和去卷积方法。